-
Відкриті торги з особливостями
-
Однолотова
-
КЕП
ДК 021:2015: 38340000-0 — Прилади для вимірювання величин (Настільний оптичний профілометр Polytec TopMap Micro.View (TMS-1400) для вимірювання 3D шорсткості поверхні або еквівалент)
Тендер Prozorro UA-2026-10-23-014755-a
-
Подача пропозицій до закінчення періоду залишилося 15 днів (до 08.11.26 20:00)
-
Кваліфікація
-
Пропозиції
розглянуто
Період подачі пропозицій
до закінчення періоду залишилося 15 днів (до 08.11.26 20:00)
2 166 666.67
UAH без ПДВ
До закінчення прийому пропозицій
15
дн
22
год
56
хв
49
сек
Розрахунок оплати за участь
Плата за участь становить 0,3% від первинної цінової пропозиції, але не більше 3 розмірів прожиткового мінімуму на одну працездатну особу станом на 1 січня року, в якому було подано тендерну пропозицію/пропозицію. Розмір плати, встановлений у цьому пункті, визначений з урахуванням усіх податків і зборів (крім податку на додану вартість), що сплачуються у випадках, передбачених законодавством. Максимальна сума плати за участь та плата за участь у процедурі "Відкриті торги для закупівлі енергосервісу" становить 11980,80 грн., в т.ч. ПДВ. (згідно п.5 Постанови 166)
Номер:
950198e4eb2b40bb8edc21949371b611
Внутрішній номер закупівлі:
30828683
Ідентифікатор закупівлі:
UA-2026-10-23-014755-a
Замовник:
Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
×
-
Код ЄДРПОУ:
05416952
-
Адреса:
03028, Україна, м. Київ, Київ, Проспект Науки будинок 41
-
Категорія:
Юридична особа, яка забезпечує потреби держави або територіальної громади
Контактна особа:
Мороз Галина Іванівна +380445255575 galina.ook@gmail.com
Класифікатор ДК 021:2015:
38340000-0 Прилади для вимірювання величинАналіз за цим CPV
Вид предмету закупівлі:
Товари
Очікувана вартість:
2 166 666.67 UAH без ПДВ
Період уточнення:
23.10.2026 18:52 - 05.11.2026 00:00
Період прийому пропозицій:
23.10.2026 18:52 - 08.11.2026 20:00
Період оскарження:
23.10.2026 18:52 - 05.11.2026 00:00
Аукціон:
з 09.11.2026 12:03
Тендерна документація до лоту 1
- Лот №1 ₴2 166 666.67 Настільний оптичний профілометр Polytec TopMap Micro.View (TMS-1400) для вимірювання 3D шорсткості поверхні або еквівалент