-
Відкриті торги з особливостями
-
КЕП
ДК 021:2015: 38340000-0 — Прилади для вимірювання величин (Настільний оптичний профілометр Polytec TopMap Micro.View (TMS-1400) для вимірювання 3D шорсткості поверхні або еквівалент)
Оголошено тендер
2 600 000.00
UAH
Номер:
60a4f4b068ce43268dff6f9abc5a2b53
Ідентифікатор плану:
UA-P-2026-10-23-016390-a
Тип процедури:
Відкриті торги з особливостями
Закупівельник:
Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
×
-
Код ЄДРПОУ:
05416952
-
Адреса:
03028, Україна, м. Київ, Київ, Проспект Науки будинок 41
-
Категорія:
Юридична особа, яка забезпечує потреби держави або територіальної громади
Замовник:
Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
×
-
Код ЄДРПОУ:
05416952
-
Адреса:
03028, Україна, м. Київ, Київ, Проспект Науки будинок 41
-
Категорія:
Юридична особа, яка забезпечує потреби держави або територіальної громади
Очікувана вартість:
2 600 000.00 UAH
Конкретна назва предмету закупівлі:
ДК 021:2015: 38340000-0 — Прилади для вимірювання величин (Настільний оптичний профілометр Polytec TopMap Micro.View (TMS-1400) для вимірювання 3D шорсткості поверхні або еквівалент)
Річний план закупівлі на:
2026
Орієнтовний початок проведення процедури закупівлі:
Жовтень 2026
Класифікатор ДК 021:2015:
38340000-0 Прилади для вимірювання величин
КЕКВ:
3110 Придбання обладнання і предметів довгострокового користування
Дата опублікування:
23.10.2026 18:24
Історія обґрунтування:
×
-
Опис обґрунтування:
Закупівля Настільного оптичного профілометра Polytec TopMap Micro.View (TMS-1400) необхідне для успішного виконання проєктів оборонного призначення для забезпечення потреб оборонно-промислового комплексу України. Наразі виникла гостра потреба у модернізації та розширенні матеріально-технічної бази Інституту. Метою цієї закупівлі є забезпечення високої точності, надійності та безперебійності контролю якості високотехнологічної продукції військового призначення. Настільний оптичний профілометр Polytec TopMap Micro.View (TMS-1400) призначений для проведення безконтактних прецизійних вимірювань 3D шорсткості поверхні, мікрорельєфу, топографії та геометрії критично важливих вузлів і компонентів. Використання цього інноваційного обладнання дозволить здійснювати суворий вихідний і операційний контроль зразків на мікро- та нанорівнях.
-
Дата публікації:
23.10.2026 18:25
Документи
Номенклатура
Назва
Кількість
Період постачання
Настільний оптичний профілометр Polytec TopMap Micro.View (TMS-1400) для вимірювання 3D шорсткості поверхні або еквівалент
Кількість
1 комплект
Період постачання
до 30.12.2026
Джерела фінансування
Джерело
Опис
Код класифікації видатків
Сума
ДжерелоДержавний бюджет України
ОписЗагальний фонд
Код класифікації видатківКПК-2026:6541230 - Підтримка розвитку пріоритетних напрямів наукових досліджень
Сума2 600 000.00 UAH