-
Відкриті торги з особливостями
-
Однолотова
-
КЕП
Автоматична система контролю твердості (вимірювання відбитків)
Згідно специфікації
-
Подача пропозицій до закінчення періоду залишилося 6 днів (до 08.07.26 00:00)
-
Кваліфікація
-
Пропозиції
розглянуто
Період подачі пропозицій
до закінчення періоду залишилося 6 днів (до 08.07.26 00:00)
75 000.00
UAH з ПДВ
До закінчення прийому пропозицій
06
дн
21
год
53
хв
36
сек
Розрахунок оплати за участь
Плата за участь становить 0,3% від первинної цінової пропозиції, але не більше 3 розмірів прожиткового мінімуму на одну працездатну особу станом на 1 січня року, в якому було подано тендерну пропозицію/пропозицію. Розмір плати, встановлений у цьому пункті, визначений з урахуванням усіх податків і зборів (крім податку на додану вартість), що сплачуються у випадках, передбачених законодавством. Максимальна сума плати за участь та плата за участь у процедурі "Відкриті торги для закупівлі енергосервісу" становить 11980,80 грн., в т.ч. ПДВ. (згідно п.5 Постанови 166)
Номер:
fbd4f21acceb43b7b04ee69f9f43cd08
Внутрішній номер закупівлі:
29698686
Ідентифікатор закупівлі:
UA-2026-06-30-015547-a
Замовник:
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
×
-
Код ЄДРПОУ:
05417331
-
Адреса:
03142, Україна, Київська область, місто Київ, бульв. Академіка Вернадського, 36
-
Категорія:
Юридична особа, яка забезпечує потреби держави або територіальної громади
Контактна особа:
Мельниченко Тетяна Володимирівна +380444229572 tetiana.melnychenko68@gmail.com
Класифікатор ДК 021:2015:
42960000-3 Системи керування та контролю, друкарське і графічне обладнання та обладнання для автоматизації офісу й обробки інформаціїАналіз за цим CPV
Вид предмету закупівлі:
Товари
Очікувана вартість:
75 000.00 UAH з ПДВ
Період уточнення:
30.06.2026 21:22 - 05.07.2026 00:00
Період прийому пропозицій:
30.06.2026 21:22 - 08.07.2026 00:00
Період оскарження:
30.06.2026 21:22 - 05.07.2026 00:00
Аукціон:
з 08.07.2026 13:15
Тендерна документація до лоту 1
- Лот №1 ₴75 000.00 Автоматична система контролю твердості (вимірювання відбитків)